[24p-1BJ-1~9] Beyond Graphene

5:15 PM - 5:30 PM JST(8:15 AM - 8:30 AM UTC)

[24p-1BJ-8] Electronic state of powdered semiconductor r-BS studied by micro-ARPES

〇Katsuaki Sugawara^1,2,3, Haruki Kusaka⁴, Tappei Kawakami¹, Koki Yanagizawa¹, Asuka Honma¹, Seigo Souma^2,5, Kosuke Nakayama¹, Masashi Miyakawa⁶, Takashi Taniguchi^6,7, Miho Kitamura⁸, Koji Horiba⁹, Hiroshi Kumigashira¹⁰, Takashi Takahashi¹, Shin-ichi Orimo^2,11, Masayuki Toyoda¹², Susumu Saito¹², Takahiro Kondo^2,4, Takafumi Sato^1,2,5,13 (1.Dept. Phys., Tohoku Univ., 2.WPI-AIMR, Tohoku Univ., 3.JST-PRESTO, 4.Dep. Mater. Sci., Univ. Tsukuba, 5.CSIS, Tohoku Univ., 6.NIMS, 7.NIMS-MANA, 8.KEK-IMSS-PF, 9.QST, 10.IMRAM, Tohoku Univ., 11.IMR, Tohoku Univ., 12.Dep. Phys., Tokyo Tech., 13.SRIS, Tohoku Univ.)

Keywords:

powdered material,layer semiconductor,micro-ARPES

ホウ素と硫黄で構成されたBSシートが積層したr-BSは、菱面体構造を持つ半導体材料として近年注目を集めている。一方、試料サイズが20μm程度の粉状であるため、その電子状態は従来のARPESでは直接観測が困難であり未解明なままであった。そこで今回我々は、KEK-PFのビームラインBL-28Aで建設したマイクロARPES装置を用いてr-BSの電子状態の測定を行った。講演では半導体的電子状態の直接観測に成功した結果について報告する。