講演情報
[24p-1BJ-8]マイクロARPESによる粉状半導体r-BSの電子状態
〇菅原 克明1,2,3、日下 陽貴4、川上 竜平1、柳沢 幸紀1、本間 飛鳥1、相馬 清吾2,5、中山 耕輔1、宮川 仁6、谷口 尚6,7、北村 未歩8、堀場 弘司9、組頭 広志10、高橋 隆1、折茂 慎一2,11、豊田 雅之12、斎藤 晋12、近藤 剛弘2,4、佐藤 宇史1,2,5,13 (1.東北大院理、2.東北大WPI-AIMR、3.JST-PRESTO、4.筑波大数理物質、5.東北大CSIS、6.NIMS、7.NIMS-MANA、8.高エ研物構研、9.量研機構、10.東北大多元研、11.東北大金研、12.東工大院理、13.東北大SRIS)
キーワード：
粉状物質,層状半導体,マイクロARPES
ホウ素と硫黄で構成されたBSシートが積層したr-BSは、菱面体構造を持つ半導体材料として近年注目を集めている。一方、試料サイズが20μm程度の粉状であるため、その電子状態は従来のARPESでは直接観測が困難であり未解明なままであった。そこで今回我々は、KEK-PFのビームラインBL-28Aで建設したマイクロARPES装置を用いてr-BSの電子状態の測定を行った。講演では半導体的電子状態の直接観測に成功した結果について報告する。