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[25a-61B-1]TiN topographical etching with ECR etching system

〇Koichi Takasaki1, Makoto Satake2, Makoto Miura1 (1.Hitachi High-Tech, 2.Hitachi R&D)

Keywords:

etching,TiN,topographical

イオンとラジカルの両方を照射してRIEを行う機能と、ラジカル等の中性粒子のみを照射して等方性なRadical etchingを行う機能との切り替えが可能なマイクロ波ECR装置を用いて、Cl2系のRadical etchingとRIEの適切な組み合わせにより、トポグラフィカルなTiN選択的エッチングを実現した。