Presentation Information
[10a-N302-7]Implementation of cryogenic switching circuits for rapid evaluation of silicon qubit devices
〇Takeshi Fukuda1, Tatsuya Matsuda1, Ryutaro Matsuoka1, Itaru Yanagi2, Toshiyuki Mine2, Ryuta Tsuchiya2, Digh Hisamoto2, Hiroyuki Mizuno2, Raisei Mizokuchi1, Jun Yoneda1,3, Tetsuo Kodera1 (1.Science Tokyo, 2.R&D Group, Hitachi, Ltd., 3.UTokyo)
Keywords:
quantum dot,cryogenic circuit
シリコン量子ビットの大規模集積化に向け、迅速な評価系の構築が求められている。本研究では、極低温下で配線の切り替えが可能なプリント基板を用いた、一度の冷却で複数のシリコン量子ビットデバイスを測定可能な評価系の構築に取り組んだ。一度の冷却で2つのシリコン量子ビットデバイスを測定し、2つのデバイスの温度依存性およびノイズ特性の測定を取得した行った。本手法はシリコン量子コンピュータの大規模化に向けた大規模評価の効率化に寄与すると期待される。