講演情報
[10a-N302-7]シリコン量子ビットデバイスの迅速評価に向けた極低温スイッチング回路の導入
〇福田 毅1、松田 達也1、松岡 竜太郎1、柳 至2、峰 利之2、土屋 龍太2、久本 大2、水野 弘之2、溝口 来成1、米田 淳1,3、小寺 哲夫1 (1.東京科学大、2.日立研開、3.東大)
キーワード：
量子ドット、極低温回路
シリコン量子ビットの大規模集積化に向け、迅速な評価系の構築が求められている。本研究では、極低温下で配線の切り替えが可能なプリント基板を用いた、一度の冷却で複数のシリコン量子ビットデバイスを測定可能な評価系の構築に取り組んだ。一度の冷却で2つのシリコン量子ビットデバイスを測定し、2つのデバイスの温度依存性およびノイズ特性の測定を取得した行った。本手法はシリコン量子コンピュータの大規模化に向けた大規模評価の効率化に寄与すると期待される。