[10p-N206-1~13] 6.3 Oxide electronics

2:45 PM - 3:00 PM JST(5:45 AM - 6:00 AM UTC)

[10p-N206-6] Quantitative Evaluation of Surface Structures for Nanomaterial Applications via Topological Data Analysis

〇Nodoka Takatsuka¹, Yukiko Hirose¹, Emi Minamitani², Kazuto Akagi³, Tohru Sugahara^1,2 (1.Kyoto Inst. Tech., 2.SANKEN, 3.Tohoku Univ.)

Keywords:

Nanomaterial,Topological Data Analysis

ナノ材料の複雑な表面形態を客観的に定量評価するため、パーシステントホモロジー(PH)による解析を導入した。PH解析により材料表面のFE-SEM像から抽出した特徴ベクトルを主成分分析することで、多様なナノ構造の形態を分類した。さらに、各主成分は表面の凹凸や細孔といったナノ構造の微視的領域の特徴を分離して捉えており、本手法が材料の機能性を予測する新たな定量的記述子として有効である。