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[7p-N401-13]Impurity Ion Doping into Si Quantum Dots

〇Kazumasa Yonetsu1, Tomohisa Mizuno1 (1.Kanagawa Univ.)

Keywords:

semiconductor,Quantum dot

Si酸化膜中に形成されたSi量子ドットに対し、P⁺イオンドーピングを行った。PL測定より、ドーズ量増加に伴いピークエネルギーが低下し、バンドギャップナローイングが確認された。またHAXPESより、P–Si結合が観測され、ドーピングの成立が示された。