[9p-N307-1~15] 6.6 Probe Microscopy

2:30 PM - 2:45 PM JST(5:30 AM - 5:45 AM UTC)

[9p-N307-5] Visualizing Bias-Dependent Changes in Ionic Liquid-SrTiO3 Interface Structures by 3D scanning force microscopy

〇Haohui Zhang¹, Takashi Sumikama¹, Kazuki Miyata¹, Sunao Shimizu², Yoshihiro Iwasa³, Takeshi Fukuma¹ (1.Kanazawa Univ., 2.Toyama Prefectural Univ., 3.RIKEN CEMS)

Keywords:

Electrical Double Layer Transistor,3D-SFM

本研究では、電気二重層トランジスタ（EDLT）のIL/SrTiO₃界面構造を3次元走査型力顕微鏡（3D-SFM）で観察した。独自に設計した小型EDLTデバイスを用い、ゲート電圧によるチャネルの界面構造の変化を可視化した。正バイアス下ではSrTiO₃上に多層構造を形成し、負バイアス下では構造が不鮮明化した。これらの結果はEDLT動作機構と整合し、今後は分子動力学シミュレーションによる詳細解析を進める。