Presentation Information
[14p-K205-8]Analysis of Graphene Field-Effect Transistor Arrays Using Raman Microscopy
〇Shota Ushiba1, Tomomi Nakano1, Yuka Tokuda1, Shinsuke Tani1, Masahiko Kimura1, Kazuhiko Matsumoto2 (1.Murata Manufacturing Co., Ltd., 2.SANKEN, Osaka Univ.)
Keywords:
graphene,Raman spectroscopy,field-effect transistor (FET)
グラフェン合成技術の発展により, グラフェン電界効果トランジスタ(GFET)アレイの作製が可能となった。しかし, アレイ全体で電気特性はバラついており, 商業化の大きな課題となっている。本研究では, ラマン顕微鏡を用いたGFETアレイの検査技術を提案する。電気測定を行う前に, アレイ内の全てのGFETのラマンイメージを撮像した。Gバンドおよび2Dバンドのピーク位置から, GFET内のホールキャリア密度 (nH) を算出した。nHは, 溶液下で測定したVDPと相関した。さらに, GFETのラマンピークを作製プロセス毎に追跡した結果, 面内バラツキがwet転写プロセス中に発生していることが明らかとなった。
Comment
To browse or post comments, you must log in.Log in