講演情報
[14p-K205-8]グラフェンFETアレイのラマン顕微鏡による評価
〇牛場 翔太1、中野 友美1、德田 優果1、谷 晋輔1、木村 雅彦1、松本 和彦2 (1.株式会社村田製作所、2.阪大産研)
キーワード:
グラフェン、ラマン分光、電界効果トランジスタ (FET)
グラフェン合成技術の発展により, グラフェン電界効果トランジスタ(GFET)アレイの作製が可能となった。しかし, アレイ全体で電気特性はバラついており, 商業化の大きな課題となっている。本研究では, ラマン顕微鏡を用いたGFETアレイの検査技術を提案する。電気測定を行う前に, アレイ内の全てのGFETのラマンイメージを撮像した。Gバンドおよび2Dバンドのピーク位置から, GFET内のホールキャリア密度 (nH) を算出した。nHは, 溶液下で測定したVDPと相関した。さらに, GFETのラマンピークを作製プロセス毎に追跡した結果, 面内バラツキがwet転写プロセス中に発生していることが明らかとなった。