[14p-K406-1~15] 12.1 Fabrications and Structure Controls

1:45 PM - 2:00 PM JST(4:45 AM - 5:00 AM UTC)

[14p-K406-4] Evaluation of Structural Rearrangement in Pentacene Thin Films Grown at Low Temperature by In-situ Grazing Incidence Two-Dimensional X-ray Diffraction

〇Ryosuke Matsubara¹, Taiga Izakura¹, Yuga Takeuchi², Takeshi Watanabe³, Noriyuki Yoshimoto², Atsushi Kubono¹ (1.Shizuoka Univ., 2.Iwate Univ., 3.JASRI)

Keywords:

pentacene,vacuum deposition,grazing incidence X-ray diffraction

平板上あるいは直鎖上の有機分子を真空蒸着する際、基板温度を低温にして成膜することで平行配向薄膜やアモルファス薄膜が成長する。しかし分子配向の評価は成膜後に基板温度を室温に戻してから行う必要があり、室温に戻す過程で分子の再配列が起きている可能性もある。本研究では、SPring-8でのIn-situ 微小角入射二次元X線回折により低温でのペンタセン薄膜成長と昇温過程における構造変化をリアルタイムに評価した結果について報告する。