[15a-K207-1~11] 17.2 Graphene

9:45 AM - 10:00 AM JST(12:45 AM - 1:00 AM UTC)

[15a-K207-4] Quantitative analysis of TEM images of defective mono-layer graphene via persistent homology

〇(D)Ryuto Eguchi^1,2, Ayako Hashimoto^1,2 (1.NIMS, 2.Univ. Tsukuba)

Keywords:

mono-layer graphene,persistent homology,TEM

単層グラフェンにはStone-Wales欠陥等の様々な格子欠陥が存在し、電子線照射により欠陥が導入されることが知られている。本研究では、単層グラフェンのTEM像に対してパーシステントホモロジー(PH)を適用することで、電子線量と欠陥構造の定量解析を行った。その結果、炭素原子の環の歪度の定量化とN員環のN数の抽出を行うことができた。また、電子線照射によって、環の歪度は大きくなり、6員環以外の環の個数は増加することが分かった。