[15p-K203-1~8] The roles and prospects of synchrotron radiation in advanced materials science research

1:30 PM - 2:00 PM JST(4:30 AM - 5:00 AM UTC)

[15p-K203-1] Depth-resolved Analysis of Surface and Interface by X-ray Absorption Spectroscopy

〇Kenta Amemiya¹ (1.KEK-IMSS)

Keywords:

X-ray absorption spectroscopy,depth-resolved analysis

本講演ではまず，X線吸収強度に比例して放出される電子を角度分解して取り込むことによって深さ分解分析を行う「深さ分解XAS法」の開発と，それを用いた研究を紹介する。次いで，磁場などの外場中やガス雰囲気下での測定のために導入した，蛍光X線を角度分解して検出する手法を用いて，磁性薄膜の磁気異方性や材料の酸化状態を深さ分解観察した研究を紹介する。XASを用いた深さ分解分析の現状と今後の展開を議論したい。