講演情報
[15p-K203-1]X線吸収分光による表面・界面の深さ分解分析
〇雨宮 健太1 (1.KEK物構研)
キーワード：
X線吸収分光法、深さ分解分析
本講演ではまず，X線吸収強度に比例して放出される電子を角度分解して取り込むことによって深さ分解分析を行う「深さ分解XAS法」の開発と，それを用いた研究を紹介する。次いで，磁場などの外場中やガス雰囲気下での測定のために導入した，蛍光X線を角度分解して検出する手法を用いて，磁性薄膜の磁気異方性や材料の酸化状態を深さ分解観察した研究を紹介する。XASを用いた深さ分解分析の現状と今後の展開を議論したい。