[15p-K209-1~11] 11.1 Fundamental properties

3:45 PM - 4:00 PM JST(6:45 AM - 7:00 AM UTC)

[15p-K209-8] Local structure analysis of NdFeAs(O,H) thin films by means of x-ray absorption spectroscopy

〇Koki Miyamoto¹, Hiroto Hibino¹, Atsuro Yoshikawa¹, Shunya Tomioka¹, Ibuki Washitani¹, Takafumi Hatano¹, Hiroshi Ikuta^1,2 (1.Nagoya Univ, 2.Nagoya Univ RCCME)

Keywords:

iron based superconductor,x-ray absorption spectroscopy,film

本研究では、鉄系超伝導体 NdFeAs(O,H) 薄膜の XRD および XAFS 測定を通じて、H置換量に応じた局所構造と超伝導特性の関係を調べた。特に、H置換量増加に伴い上部臨界磁場の異方性 γ_Hc2が大きく変化する点に着目し、As-Fe-As結合角との関連性を調べた。結果として、置換量に伴う結合角の挙動はバルク試料とは異なっており、その理由として基板による歪みの影響が考えられる。