[15p-K209-1~11] 11.1 基礎物性

15:45 〜 16:00

[15p-K209-8] X線吸収分光による鉄系超伝導体NdFeAs(O,H)薄膜の局所構造解析

〇宮本 洸希¹、日比野 絢斗¹、吉川 淳朗¹、冨岡 隼也¹、鷲谷 伊吹¹、畑野 敬史¹、生田 博志^1,2 (1.名大院工、2.名大 RCCME)

キーワード：

鉄系超伝導体、X線吸収分光、薄膜

本研究では、鉄系超伝導体 NdFeAs(O,H) 薄膜の XRD および XAFS 測定を通じて、H置換量に応じた局所構造と超伝導特性の関係を調べた。特に、H置換量増加に伴い上部臨界磁場の異方性 γ_Hc2が大きく変化する点に着目し、As-Fe-As結合角との関連性を調べた。結果として、置換量に伴う結合角の挙動はバルク試料とは異なっており、その理由として基板による歪みの影響が考えられる。