[15p-K304-1~11] 3.7 Optical measurement, instrumentation, and sensor

5:45 PM - 6:00 PM JST(8:45 AM - 9:00 AM UTC)

[15p-K304-8] Spectropolarimetric Microscope Using Wavelength-Scanning Source (2)

〇Gaku Tanizaki¹, Shintaro Soma¹, Xiaoshuai Chen¹, Kazuhiko Oka¹ (1.Hirosaki Univ.)

Keywords:

polarization,speckle,hyperspectral imaging

偏光顕微鏡は、結晶や細胞などの異方性を観察する手段として広く用いられている。ただし従来は、偏光変調素子の制約により主に単色のみで利用されてきた。本研究で我々は、チャネルド分光偏光計測法によりこの制約の緩和を目指した。特に今回は、偏光計測に影響を与えない形でのスペックル低減機構を開発し、先に提案した原理と組み合わせることにより実際に顕微鏡下でのハイパー分光偏光計測に成功した。