Presentation Information
[15p-K306-2]Monitoring the effects of metal oxide nanoparticles on plant growth by Statistical Interferometry Technique (SIT)
〇(M1)Riku Yabuki1, Hirofumi Kadono1 (1.Saitama Univ.)
Keywords:
Statistical Interferometry Technique (SIT),Nanoparticles,Zinc oxide (ZnO)
ナノ材料は,農業,工業,医薬などの分野で普及し,その大きさ,形状,用量によって植物に異なる影響を与えるため,ナノ材料に対する植物の反応を計測する技術は重要である.当研究室で独自に開発した「統計干渉法(SIT)」は,散乱場の位相が完全にランダムであるという新しい原理に基づいた,サブナノメートルの高精度を実現しながら,非侵襲で植物の表面において秒スケールで生じる微小な成長挙動をリアルタイムで計測することができる光干渉法である.本研究では,植物の葉の成長に与える影響を計測することを目的として,異なる濃度(25ppm,100ppm)のZnOナノ粒子(<50nm)およびミクロン粒子(<5µm)に暴露したレンズ豆の葉の成長をSITにより計測し,ZnO粒子の与える影響のサイズ依存性を観察した.
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