[17p-K503-1~12] 6.6 Probe Microscopy

3:30 PM - 3:45 PM JST(6:30 AM - 6:45 AM UTC)

[17p-K503-9] Microscopic Electrical Characterization of Organic Thin-Film Transistors Using Pump-Probe Kelvin-probe Force Microscopy

〇Kazuki Arinaga¹, Hibi Kota¹, Kei Kobayashi¹ (1.Kyoto Univ.)

Keywords:

KFM,OTFT

有機薄膜トランジスタの電気特性を原子間力顕微鏡を応用した手法にて解析した結果とI-V特性にて取得された電気特性との比較を行い、議論する