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10:30 AM - 10:45 AM JST(1:30 AM - 1:45 AM UTC)

[15a-W2_402-3]Study on atomic arrangement of bulk SiGe observed by X-ray diffraction with synchrotron radiation

〇Ryo Yokogawa^1,2,3, Yuta Ito^4,5, Yasutomo Arai⁶, Ichiro Yonenaga⁷, Taishun Manjo⁸, Satoshi Tsutsui⁸, Yuiga Nakamura⁸, Hibiki Bekku⁹, Yusuke Noda¹⁰, Koji Sueoka¹¹, Atsushi Ogura^4,3 (1.RISE, Hiroshima Univ., 2.Grad. Sch. of Eng., Hiroshima Univ., 3.MREL, 4.Meiji Univ., 5.JSPS Research Fellow DC, 6.JAXA, 7.Tohoku Univ., 8.JASRI, 9.Grad. Sch. Compt. Sci. Syst. Eng., Okayama Pref. Univ., 10.Kyushu Inst. Technol., 11.Fac. Compt. Sci. Syst. Eng., Okayama Pref. Univ.)

Keywords:

SiGe,XRD,Reciprocal space mapping

SiGeは次世代熱電発電、電子デバイスへの応用に期待されており、SiGeの原子配列は微視的な熱特性と電子バンド構造を規定するため、原子配置の厳密な把握が重要となる。本研究では放射光X線回折を用い、バルクSiGeの3次元広域逆格子マップ中の散漫散乱分布から原子配列を直接的に解析した。結果、バルクSiGeの原子配列は完全にランダムで配置されず、広範囲で同種原子と結合しやすい傾向を得たので報告する。

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