[16p-PB2-1~15] 6.6 Probe Microscopy

[16p-PB2-11] Time-Resolved Potential Measurement Using Heterodyne-Amplitude-Modulation
Pump-Probe Kelvin-probe Force Microscopy

〇Kota Hibi¹, Kei Kobayashi¹ (1.Kyoto Univ.)

Keywords:

Atomic Force Microscopy(AFM),Kelvin-probe Force Microscopy(KFM),Organic semiconductor

有機薄膜トランジスタ（OTFT）の動作中に起こる電位変化を短時間スケールで捉えるため、ヘテロダイン振幅変調法を用いたポンプ・プローブKFM（PP-HAM-KFM）による時間分解計測を行っています。 本講演では、Au電極試料による基礎評価を通して分解能を制限する要因を整理し、分解能向上に向けた検討結果を報告します。