講演情報
[16p-PB2-11]ヘテロダイン振幅変調法を用いたポンププローブケルビンプローブフォース顕微鏡による時間分解電位計測
〇日比 功太1、小林 圭1 (1.京大工)
キーワード：
原子間力顕微鏡（AFM）、ケルビンプローブフォース顕微鏡（KFM）、有機半導体
有機薄膜トランジスタ（OTFT）の動作中に起こる電位変化を短時間スケールで捉えるため、ヘテロダイン振幅変調法を用いたポンプ・プローブKFM（PP-HAM-KFM）による時間分解計測を行っています。 本講演では、Au電極試料による基礎評価を通して分解能を制限する要因を整理し、分解能向上に向けた検討結果を報告します。