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[16p-W2_401-7]Ohmic Contact Formation on Both N-Polar and Metal-Polar n-Al0.62Ga0.38N

〇(M1)Ryota Watanabe1, Takumu Saito1, Rintaro Miyake1, Shundai Maruyama1, Shogo Karino1, Yusuke Sasaki1, Seiya Kato1, Naoki Kitta1, Yuma Miyamoto1, Sion Kamiya1, Sho Iwayama1, Hideto Miyake2, Yasuo Koide1, Satoshi Kamiyama1, Tetsuya Takeuchi1, Motoaki Iwaya1 (1.Meijo Univ., 2.Mie Univ.)

Keywords:

UV-B LD,annealing,Metal-polar,N-polar

AlGaN系レーザーデバイスにおいて、低接触抵抗を有する安定なオーミック電極形成プロセスの確立が、低駆動電圧化、高効率化および高信頼動作の観点から極めて重要である。本報告では、n-Al0.62Ga0.38Nに対して、メタル極性およびN極性の両極性においてV/Al/Ti/Au電極を用いたオーミック電極形成が可能であることを示す。また、その支配因子が電極中のAl膜厚であることを示唆する結果について報告する。