Presentation Information
[18a-W9_324-4]Relationship between Electron Irradiation Dose and Magnetic Sensitivity in the Formation of Silicon Vacancies in 4H-SiC
〇(M1)Akinori Nishimoto1,2, Shinichiro Sato2, Koichi Murata3, Masafumi Hanawa3, Seiichi Saiki2, Yuichi Yamazaki2, Hidekazu Tsuchida3, Yasuto Hizikata1, Takeshi Oshima2 (1.Saitama Univ., 2.QST, 3.CRIEPI)
Keywords:
4H-SiC,Optically Detected Magnetic Resonance,Magnetic sensitivity
炭化ケイ素中の負電荷シリコン空孔(V-Si)を用いた磁気センサについて、高濃度条件における磁気感度を検討した。高純度半絶縁性4H-SiCに2 MeV電子線照射を行い、形成したV-Siに対して室温ODMR測定を実施し、照射量と磁気感度の関係を系統的に評価した。その結果、高濃度化によりピーク強度の低下及び半値幅の増加が生じ、磁気感度が劣化することが明らかとなった。また発光遷移寿命や透過率変化との関連から、感度低下の要因についても議論する。
