[2F01-05] 測定実験

10:30 〜 10:45

[2F05] Siにおける負ミューオン原子核捕獲反応からの放出軽荷電粒子エネルギースペクトルのアンフォールディングによる推定

*北藤 健太郎¹、川瀬 頌一郎¹、川田 哲平¹、渡辺 幸信¹、新倉 潤²、水野 るり恵³、友野 大⁴、石田 勝彦⁵、Hillier Adrian⁶ (1. 九大、2. 理研、3. 東大、4. 阪大、5. KEK、6. ラザフォードアップルトン研)

キーワード：

ミューオン原子核捕獲反応、ソフトエラー、軽荷電粒子、エネルギースペクトル、アンフォールディング

放射線が電子機器内部の半導体デバイスに入射した際に発生する一過性の誤動作をソフトエラーと呼び、近年注目を集めている。その主な原因は宇宙線であり、中でも宇宙線負ミューオンは半導体デバイス中で停止した場合に半導体の原子核と負ミューオン原子核捕獲反応を引き起こして軽荷電粒子を発生させる。その発生した軽荷電粒子もソフトエラーの原因となるため、ソフトエラー発生確率の高精度な推定のためには負ミューオン原子核捕獲反応からの放出軽荷電粒子のエネルギースペクトルが重要である。そこで、我々は英国Rutherford Appleton Laboratoryにおいて、Siにおける負ミューオン原子核捕獲反応からの放出軽荷電粒子測定実験を実施し、アンフォールディング法によりそのエネルギースペクトルの推定を行った。