講演情報
[2K18]放射性廃棄物の減容化に向けたガラス固化技術の基盤研究(129) 軟X線領域のXAFS測定によるホウケイ酸ガラスの構造評価
*永井 崇之1、岡本 芳浩1、柴田 大輔2、小島 一男2、長谷川 毅彦3、佐藤 誠一3、深谷 茜4、畠山 清司4 (1. JAEA、2. 立命館大学SRセンター、3. 検査開発、4. E&Eテクノサービス)
キーワード:
ガラス固化、ホウケイ酸ガラス、XAFS、ラマン分光、ホウ素、ケイ素、セリウム
模擬廃棄物ガラス塊の凝固表層と切断面を対象に,ガラス成分のB,Si等のK吸収端及び廃棄物成分のCeのL3吸収端をXAFS測定し,ガラス塊の部位による構成元素の化学状態の相違を比較した.
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