講演情報

[[C]C204-3am-05]透過電子顕微鏡と計算化学を組み合わせたサブナノ粒子の3次元構造解析

○原田 拓馬1、内木 乃亜1、吉田 将隆1、今岡 享稔1、山元 公寿1 (1. 東京科学大学)

キーワード:

サブナノ粒子、走査型透過電子顕微鏡、画像解析、第一原理計算、立体構造復元