[[C]C404-2pm] 08. 触媒

14:00 〜 14:10日本語

[[C]C404-2pm-06] 透過電子顕微鏡法によるゼオライト担持銅ナノ粒子触媒の断面観察

○山本 若葉¹、安原 聡¹、柴田 昌照¹、岩月 晴頌²、坂根 駿也³、田中 秀樹² (1. 日本電子株式会社、2. 中央大学、3. 茨城大学)

キーワード：

銅ナノ粒子、ゼオライト、触媒、透過電子顕微鏡