講演情報

[[G]3401-2pm-03]マルチスケール疲労計測による高分子フィルムの湾曲破壊プロセスの可視化

○岸本 勇勝1、久野 恭平1、宍戸 厚1 (1. 東京科学大学)

キーワード:

高分子フィルム、湾曲、疲労、高次構造、X線散乱