セッション詳細
[C-11]シリコン材料・デバイス
2026年3月13日(金) 9:00 〜 10:30
2号館 4階 2E 407(九州産業大学)
座長:佐道 泰造(九州大学)、池田 浩也(静岡大学)
[C-11-01]表面電位顕微鏡によるSiマイクロリボンのゼーベック係数測定
〇池田 浩也1、中原 優斗1、尾崎 晴哉1、コティスワラン カライアラサン1、ファイズ サレ2、早川 泰弘1、濱崎 拡1 (1. 静岡大、2. マラヤ大)
[C-11-02]陽極酸化により作製するシリコンワイヤの表面微細構造制御
◎△池田 浩然1、保科 好輝1、長澤 裕貴1、渡邊 良祐2、鈴木 俊明1、丹羽 雅昭1、本橋 光也1 (1. 東京電機大、2. 弘前大)
[C-11-03]SiO2ナノ薄膜の準メモリスタ的抵抗特性とその物理鍵応用
〇佐藤 井一1、大西 史桐1、江口 律子1、一戸 隆久2 (1. 兵庫県立大、2. 東京高専)
[C-11-04]3 段階ポテンシャル構造画素を用いた高速HDR読み出しの検討
〇竹本 周平1、藤原 巧貴1、宮内 健1,2、大和田 英樹2、郭家 祺2、高柳 功2、大倉 俊介1 (1. 立命館大、2. ブリルニクスジャパン)
[C-11-05]波動関数の時間発展を用いた二次元ナノスケール半導体中の不純物数推定
◎△梨木 風吾1、杉山 聖1、伊藤 佳卓1、村口 正和1、須子 統太2 (1. 北海道科学大、2. 早稲田大)
[C-11-06]半導体ソフトエラーのための宇宙地上統一環境モデルの誤差要因
◎山藤 涼矢1、小林 大輔1,2 (1. 東大院工電気系、2. JAXA宇宙研)
