年会期間中に下記のような内容で話題提供企業によるランチョンセミナーを開催いたします。ランチョンセミナーは年会参加者の皆様に昼食時間を利用して食事をとって頂きながら，企業による製品紹介や技術情報を聴講いただく企画でございます。参加費無料です。多くの皆様のご参加をお待ちしております。

 

9月15日（火）12：20～13：10
9月16日（水）12：25～13：15
9月17日（木）12：10～13：00

 

東北大学青葉山新キャンパス　年会口頭発表会場内

 

無料（但し，年会参加登録者に限る）

 

各開催日の当日8時30分より総合受付付近にて参加チケットを配布予定です。年会参加登録証を提示のうえ，ご希望のセミナー参加チケット（御一人様１日１枚）をお渡しいたします。開催時間になりましたら，参加チケットをご持参いただき，セミナー会場までお越しください。参加チケットは予定数になり次第締め切ります。参加チケットのない方の入場はお断りすることもございます。

注）フードロスをなくすため，参加チケットを受け取った方の無断キャンセルは固くお断りします。キャンセルの場合は，参加チケットを配布場所へ必ずお戻しください。

注）ランチョンセミナーは同業者様のご入場（参加チケットをお持ちの場合でも）をお断りする場合がございます。予めご了承ください。

注）ランチョンセミナーの参加者へ開催企業よりアンケートのご記入をお願いすることがございます。予めご承知おきください。

 

［9月15日（火）］

【Ｃ会場】新登場！IRイメージングシステム Aurora-I ＆ 次世代ICP-OES Avio 3000～複雑試料にどう立ち向かうか。最新装置でできること・分かること～

パーキンエルマー合同会社　新居田 恭弘、古川 真

見た目には分からない試料内部の情報をどう引き出すか。装置の原理や特長に加え、マイクロプラスチックなどの実測定データをどう取得し、理解・活用するかを紹介しながら、日々の分析業務へのヒントをお届けします。

 

【Ｄ会場】新製品  Agilent 9500 トリプル四重極 ICP-MS：スマートな意思決定をよりシンプルに

アジレント・テクノロジー株式会社　嶋田翔太

次世代 ICP-MS、Agilent 9500 トリプル四重極 ICP-MSが実現するよりスマートな分析、シンプルなワークフロー、高いデータ信頼性等、分析業務の可能性をどのように広げられるかをご紹介します。

 

【Ｅ会場】分析業務の標準化・自動化を目指した新しいイオンクロマトグラフの開発

株式会社島津製作所　後藤 武

必要な機能をコンパクトな筐体に収めたイオンクロマトグラフNexera IC。専用の簡単制御ソフトウェアや装置の維持管理のためのサポートソフトウェアを備え、分析業務の自動化と脱属人化に貢献します。

 

［9月16日（水）］

【Ｃ会場】PFASの供給源を識別：Orbitrap-IRMSによる化合物の起源の追跡

サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社　原 拓冶

PFASの分析技術は従来、定性や定量が中心で起源の追跡までは困難でした。近年、当社のOrbitrap™質量分析計を用いた同位体比分析（IRMS）が、環境中の化合物の起源追跡の新手法として注目されています。その技術の概要と、PFAS供給源の識別事例についてご紹介します。

 

【Ｄ会場】ＪＡＩＭＡジョイントセミナー２０２６「機器分析の最新技術ご紹介１」

１）高機能自動滴定装置の紹介－多彩な機能で品質管理や研究開発をサポート

東亜ディーケーケー株式会社　山﨑友実

自動滴定装置の概要と活用法をご紹介します。2系列同時測定、自動多検体測定などの拡張性を備えており、品質管理や研究開発における分析業務の効率化が可能です。電量滴定方式の塩分分析計も併せてご紹介します。

２）AI活用で変わるGC-MSデータ解析

日本電子株式会社　佐藤貴弥

GC-MSを用いた定性分析では、EIマススペクトルを用いたデータベース(DB)検索による化合物推定が広く用いられています。しかし、DB未登録の物質を含む試料に対しては十分な解析が困難となります。弊社ではこの課題に対応するため、GC QMS用のAI構造解析技術を開発しましたのでご紹介します。

 

［9月17日（木）］

【Ｃ会場】レーザースキャニング赤外マイクロイメージング装置「mIRage-HSi」の紹介

Photothermal Scientific社　Mike Lo, Ph.D

株式会社エス・ティ・ジャパン　東山尚光

O-PTIR装置「mIRage」に新しいイメージングシステムが加わりました。新開発の「mIRage-HIs」は、レーザープローブ部にスキャニング機能を搭載したモデルで、サブミクロンの空間分解でハイパースペクトルIRイメージングを数分で、任意波数におけるイメージングを数秒で測定できます。当日は、Photothermal社のO-PTIR各モデルについても紹介します。

 

【Ｄ会場】ＪＡＩＭＡジョイントセミナー２０２６「機器分析の最新技術ご紹介２」

１）マルチモーダルなアプローチで広がる単結晶Ｘ線構造解析装置の可能性

株式会社リガク　齋藤康樹

単結晶X線構造解析装置は一般的に分子などの結晶性材料の三次元構造の解析に用いられますが、他にも粉末・薄膜・繊維の測定や、精密構造解析による電子密度パラメータの解析など、多様な活用方法があります。本セミナーでは、リガクの装置を用いたこれらの測定例をご紹介します。

２）JAIMAの標準化への取り組み

一般社団法人日本分析機器工業会　永田 淳

JIS分析通則の制定・改正など分析技術や分析機器に関する規格開発を中心にJAIMAの標準化への取り組みについてご紹介します．