講演情報
[22p-52A-12]X線吸収分光顕微鏡計測に対する計測最適化
〇伊藤 優成1、武市 泰男1、日野 英逸2、小野 寛太1 (1.阪大、2.統数研)
キーワード：
計測最適化,実験計画,スペクトロスコピー計測
X線吸収分光顕微鏡は、空間各点の化学状態を反映したスペクトルが得られることから、広く用いられている計測手法である一方で、長時間の計測が必要である。本研究では、事前情報を用いて最適な実験をあらかじめ決定するBayesian Experimental Designと呼ばれる枠組みを用いて、最適な計測点を合理的に定める手法を開発した。講演では、計測点の決定およびその性能評価について詳細に述べる。