講演情報
[23a-12M-8]結晶・非晶混合Si-Geに対するpair distribution 分離解析
〇廣井 慧1、尾原 幸治1、中島 宏2、森 茂生2、Muthusamy Omprakash3、竹内 恒博3 (1.島根大材エネ、2.大阪公大工、3.豊田工大工)
キーワード：
結晶・非晶混合物,結晶PDF解析,X線全散乱測定
長時間のボールミリングによってほぼ非晶化したB添加Si-Ge材料に対し、SPring-8のBL04B2にてX線全散乱測定を行った。得られた結果を元に、講演者らが独自に開発した結晶・非晶混合物に対するPDF分離解析を実行し、結晶相と非晶相それぞれの構造情報を明らかにした。また、B添加量に対する結晶相と非晶相の分率変化を明らかにすることで、元素ドーピングによる微結晶形成を示唆する結果を得た。