セッション詳細

[23a-12M-1~10]16.1 基礎物性・評価・プロセス・デバイス

2024年3月23日(土) 9:00 〜 11:45
12M (1号館)
須藤 祐司(東北大)、 畑山 祥吾(産総研)

[23a-12M-1]真空紫外吸収分光法によるアモルファスセレン薄膜の評価

〇林 浩司1 (1.岐阜大工)

[23a-12M-2]真空蒸着法によるIn-Se膜の作製と基礎物性評価

〇新保 貴大1、平井 太洋1、後藤 民浩1 (1.群馬大理工)

[23a-12M-3]光熱偏向分光法による Sn-Se 蒸着膜の局在準位評価

〇飯田 碧1、多胡 秀斗1、後藤 民浩1 (1.群馬大院理工)

[23a-12M-4]機械学習による新規セレクタ材料開発に向けたハイスループット実験

〇齋藤 健太郎1、畑山 祥吾1、齊藤 雄太1,2、石田 真彦1,3 (1.産総研、2.東北大、3.NEC)

[23a-12M-5]Si-Te系セレクタ材料の電子構造

〇畑山 祥吾1、齊藤 雄太1,2、フォンス ポール3、シュアン イ2、キム ミヒョン2、須藤 祐司2 (1.産総研、2.東北大、3.慶応大)

[23a-12M-6]Fe–B–Si系アモルファス合金の短距離・中距離秩序の理論解析

〇平山 尚美1、池淵 遼平1、下野 昌人2 (1.島根大NEXTA、2.NIMS)

[23a-12M-7]熱酸化したZr系金属ガラスの薄膜干渉による発色機構

〇遠田 義晴1、鷺 拓未1、平井 太偲1、富樫 望2 (1.弘前大院理工、2.Orbray)

[23a-12M-8]結晶・非晶混合Si-Geに対するpair distribution 分離解析

〇廣井 慧1、尾原 幸治1、中島 宏2、森 茂生2、Muthusamy Omprakash3、竹内 恒博3 (1.島根大材エネ、2.大阪公大工、3.豊田工大工)

[23a-12M-9]Cat-CVD a-SiへのFLAにより形成した多結晶Si薄膜の水素による低欠陥化

〇王 崢1、Huynh Tu Thi Cam1、大平 圭介1 (1.北陸先端)

[23a-12M-10]熱物性値の異なる材料のナノ粒子生成依存性について

〇森永 智1、依田 眞一1、大隅 壮太2、徳田 誠2 (1.京石ナノ研、2.熊大工)