講演情報
[24a-12J-4]窒化物半導体中プラセオジムの4f殻内遷移発光に寄与する電子準位
〇佐藤 真一郎1、正直 花奈子2,3、三宅 秀人3 (1.QST、2.京大院工、3.三重大院工)
キーワード:
窒化物半導体,プラセオジム,フォトルミネセンス
窒化物(GaNおよびAlN)Pr3+の4f殻内遷移発光に寄与する電子準位について、他の母材料との比較に基づく検討を行った。その結果、GaN:Prにおける最も支配的な1.9 eV付近の発光ピークは、過去に同定された3P0 – 3F2遷移ではなく、1D2 – 3H4もしくは3P0 – 3H6遷移に起因する可能性が高いことがわかった。