講演情報

[24a-32A-1]ナノ・フレーク状グラフェンのキャリア密度分布像の導出

〇(M1C)岡林 春樹1、酒井 築1、石橋 和真1、嶋村 隼太1、芦野 慎1 (1.金沢工大工)

キーワード:

グラフェン

我々のグループでは、ケルビンプローブ力顕微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy:KPFM)を用いてナノ・フレーク状グラフェン(Graphene Nano-Flake:GNF)の表面凹凸像と表面電位像の同時観察を行っている。本研究では、KPFM測定で得られた表面電位像から直接、仕事関数の分布像を導出するとともに、表面凹凸像との比較から単層と積層各領域に対してキャリア密度を導出する方法を用いることで、GNF全体のキャリア密度分布像が得られたので報告する。