講演情報
[24p-12H-6]雰囲気制御型硬X線光電子分光によるPd/Ni薄膜ヘテロ構造の水素吸蔵特性その場観察
〇筒井 健三郎1、小野 広喜1、河添 理央3、山本 航平4、石山 修4、徐 玉均5、中辻 寛3、高木 康多5、横山 利彦4、水口 将輝1,2、宮町 俊生1,2 (1.名大院工、2.名大未来研、3.東工大、4.分子研、5.SPring-8/JASRI)
キーワード：
界面磁気結合,水素吸蔵,硬X線光電子分光
本研究では吸着原子との結合を担うPdのd軌道の電子状態の観点から水素吸蔵特性を議論するため、Pd/Ni薄膜ヘテロ構造に対して雰囲気制御型硬X線光電子分光(AP-HAXPES)測定による水素雰囲気下でのPd電子状態のその場観察に取り組んだ。結果、フェルミ準位近傍ではNi薄膜との界面磁気結合に由来すると考えられるPd 4d電子状態の変調が観測されたほか、磁化したPd薄膜が水素を吸蔵することを確認した。