講演情報
[25a-12B-10]深部散乱光の直接結像に基づくラインスキャン型断層撮影技術
〇江本 顕雄1、山口 量彦2、宮崎 格2、高橋 良文2 (1.徳島大pLED、2.アンリツ(株))
キーワード：
断層撮影,散乱光
近年、様々な分野で非破壊検査のニーズが高まっている。比較的コストが低く、測定時間も短い、非侵襲の非破壊検査技術が実現できれば、多様な対象物に対して適用可能となり、安全・安心な生活の実現に貢献できると考えられる。本研究では、深部に到達した光程、入射位置から離れた位置に戻り光が生じる現象に基づいて、対象物深部での散乱光を直接結像させる走査型の断層撮影技術を提案する。