講演情報
[25p-12E-3]二次電子制動放射線を用いた重粒子線イメージングにおけるバックグラウンド成分の低減
〇(D)津田 路子1,2、山口 充孝2、矢部 卓也2、長尾 悠人2、河地 有木2、酒井 真理3、神谷 富裕3、渡部 浩司1 (1.東北大、2.量研高崎研、3.群馬大)
キーワード：
重粒子線,二次電子制動放射線,イメージングプレート
二次電子制動放射線(SEB)測定による重粒子線イメージングにおいて、SEB以外の二次放射線(BG)成分を低減できれば、より精度の高い到達位置の推定が可能となる。そこで本研究では、治療ビーム照射中に発生するBG成分の低減を目的として実験を行った。その結果、IPとピンホールコリメータを鉛ブロックで囲うことで、先行研究よりもBG成分を低減し、統計誤差の少ないビーム像を得ることが可能であることがわかった。