[25p-1BC-1~11] 12.2 評価・基礎物性

14:30 〜 14:45

[25p-1BC-5] X線光電子分光法による有機薄膜表面の原子量比の精密決定

〇中野 恭兵¹、落合 優登¹、加地 由美子¹、但馬 敬介¹ (1.理研 CEMS)

キーワード：

有機半導体,X線光電子分光