[25p-1BC-1~11] 12.2 評価・基礎物性

15:45 〜 16:00

[25p-1BC-9] F8T2単層膜/TiO₂界面における光誘起電荷分離のEFM,KPFM測定

〇三坂 朝基¹、原 直希²、大山 浩¹、永野 修作²、松本 卓也¹ (1.阪大院理、2.立教大院理)

キーワード：

静電気力顕微鏡,ケルビンプローブフォース顕微鏡