講演情報
[15a-M_123-8]TaOX ReRAMベースのアナログComputation-in-Memoryにおける10年間のデータ保持を可能にする推論精度補償手法
〇(M1)平田 佑亮1、山内 堅心1、三澤 奈央子1、松井 千尋1、竹内 健1 (1.東大工)
キーワード:
ReRAM、データリテンション
本研究では,アナログComputation-in-Memory(CiM)のメモリセルに用いるReRAMのデータリテンション劣化による推論精度の低下を補償し,85℃の条件下で10年にわたる長期間で高い推論精度を達成する手法を提案する.
