[15a-M_124-1~13] 13.5 デバイス／配線／集積化技術

9:30 〜 9:45

[15a-M_124-3] シリコンスピン量子ビット状態読み出しにおけるデバイス・集積構造の影響検討

〇飯塚 将太¹、浅井 栄大¹、加藤 公彦¹、稲葉 工¹、宮本 聡¹、岡 博史¹、中山 隆史¹、森 貴洋¹ (1.産総研)

キーワード：

シリコンスピン量子ビット、状態読み出し、電荷計