講演情報
[15p-S4_202-3]六方晶WO3の空洞内化学種（NH4+/NH3）が構造安定性と電気・光学特性に及ぼす影響
〇(DC)成田 雄紀1、豊島 遼1、内田 建1 (1.東大工)
キーワード：
酸化物半導体、酸化タングステン
電子材料である六方晶WO3について，空洞内に存在する化学種(NH4+またはNH3)の違いが構造安定性や電気・光学特性に及ぼす影響は明らかにした．フォノン分散計算から，両者とも六方晶構造が安定して存在できることが示された．電子状態密度と電子エネルギー損失分光計算から，NH4+の場合のみにWO3への電子ドーピングと赤外吸収強度の増加が確認された．上記の結果は，いずれも実験結果と整合した．