[15p-W9_325-1~12] 11.1 基礎物性

14:30 〜 14:45奨励賞エントリー

[15p-W9_325-5] X線吸収微細構造から見た無限層銅酸化物 (Ca_0.85Sr_0.15)_1-xLa_xCuO₂薄膜における酸化/還元効果と電子状態

〇嶋田 智哉¹、林 幹稀¹、香川 陸¹、岡部 博孝²、中村 惇平²、桑原 英樹¹、門野 良典²、石井 賢司³、辻 卓也⁴、松村 大樹⁴、藤田 全基⁵、足立 匡¹ (1.上智大理工、2.KEK物構研、3.量研機構、4.原子力機構、5.東北大金研)

キーワード：

銅酸化物超伝導体、X線吸収微細構造、パルスレーザー堆積法

無限層銅酸化物の電子状態を明らかにするために、Pulsed Laser Deposition法を用 いてLSAT基板上に(Ca_0.85Sr_0.15)_1-xLa_xCuO₂薄膜を作製し、酸化と還元を行った。電 気抵抗率とX線吸収微細構造の測定から、x = 0 のAs-grownでは過剰酸素が存在 し、ホールがドープされている一方、x = 0.10 のAs-grown では過剰酸素によるホー ルがドープされた電子を相殺し、還元によって過剰酸素を除去することで電子ドープ の効果で電気抵抗が減少することが分かった。