[15p-W9_326-1~15] 7.1 X線技術

17:00 〜 17:15

[15p-W9_326-13] 積層欠陥界面におけるX線異常透過

〇香村 芳樹¹、澤田 桂¹、高野 秀和¹、石川 哲也¹ (1.理化学研究所放射光科学研究センター)

キーワード：

X線回折、半導体、ファブリペロー干渉計

ダイヤモンド結晶積層欠陥(SF)界面にＸ線を照射し、ブラッグ反射条件近傍で透過光を観察し、Darwin角度幅内ブラッグ角より低角側で、X線透過率がオフブラッグ条件の２倍に近い高い値のピークを示した。
SFをはさむ完全結晶を反射体、SFをギャップとした、Ｘ線ファブリー・ペロー干渉計の数値計算で欠乏型SFの存在を示唆した。また、X線横滑り現象によるSFへの集束により、透過率が上がったことも示唆した。