講演情報
[16a-PB4-4]ミリ波領域におけるテラヘルツ時間領域分光法を用いたシクロオレフィンポリマーの高精度誘電正接計測
〇北原 英明1、前川 佑真1、田村 愛斗1、古屋 岳1、谷 正彦1 (1.福井大学)
キーワード：
テラヘルツ時間領域分光法、誘電正接
第6世代通信規格以降の通信システムの開発が進展するにつれ、ミリ波帯において使用される機器を構成するプラスチック材料の物性に興味が持たれている。一般に使用される材料は低損失であることが重要であるため、－4乗精度の誘電正接計測を行う必要がある。これ迄、テラヘルツ時間領域分光法（THz-TDS）でこのような計測は難かった。そこで本研究ではTHz-TDSの改良を行い、4種類のシクロオレフィンポリマーを計測した結果を報告する。