[16a-W9_325-1~7] 22.1 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」

10:45 〜 11:00

[16a-W9_325-4] ナノスケール薄膜における面直方向の熱電性能評価計測

〇(DC)斎藤 滋輝¹、金子 嘉彦¹、豊岡 雅大¹、上治 寛²、草場 哲¹、Zaumseil Jana³、柳 和宏¹ (1.都立大理、2.産総研、3.Univ. Heiderberg)

キーワード：

ナノ材料、界面物性、熱電測定

ナノ薄膜材料の積層界面の構造と熱・電気伝導、熱起電力との関係を理解することは、熱電変換性能向上する上で重要な課題である。本研究では2ω法を用いて、厚さ200nmほどのカーボンナノチューブ薄膜における薄膜面直方向の熱電応答計測と5層MoS₂薄膜における熱起電力測定を行った。また、2ω法と時間領域サーモリフレクタンス法と組み合わせることによって、面直方向の熱電変換性能が可能であることを明らかにした。