講演情報
[16p-M_101-15]Ga-doped CdTe単結晶における自己補償欠陥抑制による高キャリア濃度の実現
〇都留 颯人1、永岡 章1、住吉 壱心2、野瀬 嘉太郎2、吉野 賢二1 (1.宮崎大工、2.京大院工)
キーワード:
結晶成長、移動ヒーター法(THM)、CdTe
本研究では、THM法によりGaドープCdTe単結晶を作製し、電気的・光学的評価を行った。As-grown結晶では、Cd空孔に起因する複合欠陥による自己補償のため、キャリア濃度は1014 cm-3程度で飽和した。これに対しCd雰囲気アニール処理を施した結果、補償欠陥の抑制とPL特性の改善が確認され、1016 cm-3台の高キャリア濃度化に成功した。
