講演情報
[16p-WL2_401-2]エピタキシャルFe3Si薄膜/Siにおける横ゼーベック係数の膜厚依存性とその起源
〇北浦 怜旺奈1、寺田 吏1、石部 貴史1,2、成瀬 延康3、水口 将輝4、木田 孝則5、萩原 政幸5、中村 芳明1,2 (1.阪大院基礎工、2.阪大OTRI、3.滋賀医科大、4.名大未来研、5.阪大理学)
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熱電材料、シリサイド
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