2026年第73回応用物理学会春季学術講演会
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13:45 〜 14:00
[16p-WL2_401-2]
エピタキシャルFe
3
Si薄膜/Siにおける横ゼーベック係数の膜厚依存性とその起源
〇北浦 怜旺奈
1
、寺田 吏
1
、石部 貴史
1,2
、成瀬 延康
3
、水口 将輝
4
、木田 孝則
5
、萩原 政幸
5
、中村 芳明
1,2
(1.阪大院基礎工、2.阪大OTRI、3.滋賀医科大、4.名大未来研、5.阪大理学)
キーワード:
熱電材料、シリサイド
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